现代光电测试技术/顾文郁编译
标准编号:7-5439-0263-X   
主要著者:顾文郁  编译  
出版信息:       
载体形态:400页 ; 26cm
价格描述:CNY35
主题词:光电检测  
相关资源:
 

内容摘要

介绍以光电子学为中心、特别是光学与电子计算机相结合的最优结合的最优化测试法。
文献条码 索书号 状态 所属分馆 所在馆 馆藏地点 架位号 单价 套价 入库日期 {$Think.lang.operation}
8916582 TP274/268 在架 LIBNET中心馆 LIBNET中心馆 CNY35.00 CNY35.00 2021-12-19 登录
8916583 TP274/268 在架 LIBNET中心馆 LIBNET中心馆 CNY35.00 CNY35.00 2021-12-19 登录
订购年份 验收类型 验收期数 验收数量 验收日期
未找到数据
000    nam0
001 __ 0194036506
005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-5439-0263-X■dCNY35
092 __ ■a科技297-265
100 __ ■a19940731d1994    em y0chiy0110    ea
101 1_ ■achi
102 __ ■aCN■b310000
105 __ ■ay   z   000yy
106 __ ■ar
200 1_ ■a现代光电测试技术■Axian dai guang dian ce shi ji shu■f顾文郁编译
210 __ ■a上海■c上海科学技术文献出版社■d1994.6
215 __ ■a400页■d26cm
330 __ ■a介绍以光电子学为中心、特别是光学与电子计算机相结合的最优结合的最优化测试法。
606 0_ ■2CT■3S900883■a光电检测
690 __ ■aTP274■v三版
692 __ ■a73.865
701 _0 ■a顾文郁■Agu wen yu■4编译
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603