000    nam0
001 __ 0194017680
005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-301-02260-3■dCNY28
100 __ ■a19940504d1993    kemy0chiy0110    ea
101 1_ ■achi■ceng
102 __ ■aCN■b110000
105 __ ■af   z   000yy
106 __ ■ar
200 1_ ■a原子探针显微分析■Ayuan zi tan zhen xian wei fen xi■e原理和应用■f(美)米 勒(Miller,Michael K.),(英)史密斯(Smith,George D.W.)著■g巩运明,沙 维译
210 __ ■a北京■c北京大学出版社■d1993.11
215 __ ■a279页■c图版■d20cm
300 __ ■a书名原文:Atom probe microanalysis:Principles and applications to materials problems
300 __ ■a据英文版本译出
314 __ ■aM.K.米 勒,美国橡树岭国家实验室任职
314 __ ■aG.D.史密斯,英国牛津大学任教
330 __ ■a介绍场离子显微镜和原子探针在原子级材料科学研究技术中的应用,叙述了实验数据的处理、分析和科学解释。
510 1_ ■aAtom probe microanalysis:Principles and applications to materials problems■zeng
606 0_ ■2CT■3S046172■a离子微探针分析
690 __ ■aTG115.3■v三版
692 __ ■a75.215
701 _1 ■a米勒■Ami le■bM.K.■4著
701 _1 ■aMiller■bMichael K.■4著
701 _1 ■a史密斯■Ashi mi si■bG.D.W.■4著
701 _1 ■aSmith■bGeorge D.W.■4著
702 _0 ■a巩运明■Agong yun ming■4译
702 _0 ■a沙维■Asha wei■4译
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603