薄膜物理与技术/陈国平主编
标准编号:7-81023-726-8   
主要著者:陈国平  主编  
出版信息:       
载体形态:217页 ; 26cm
价格描述:CNY7.50
主题词:薄膜物理学  
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内容摘要

本书包括:薄膜的制备技术,薄膜的形成机理,薄膜的结构与缺陷,薄膜的力学、电学、光学和磁学性质,薄膜厚度和沉积速率的测定和监控等。
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