半导体材料的辐射效应/曹建中等著
标准编号:7-03-003322-1   
主要著者:曹建中    
出版信息:       
载体形态:318页 ; 20cm
价格描述:CNY12
主题词:半导体材料  辐射效应  
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内容摘要

本书介绍了半导体材料辐射效应的基础知识,半导体材料的辐射掺杂效应、电离效应和位移效应及辐射损伤缺陷测量等知识。
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