000    nam0
001 __ 0193019352
005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-81024-195-8■dCNY9.80
100 __ ■a19800101d1992    em y0chiy0110    ea
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102 __ ■aCN■b430000
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106 __ ■ar
200 1_ ■a数字系统测试与可测性■Ashu zi xi tong ce shi yu ke ce xing■f曾芷德编著
210 __ ■a长沙■c国防科技大学出版社■d1992.12
215 __ ■a266页■d26cm
300 __ ■a英文题名:Testing and testability for digital systems
330 __ ■a本书介绍了数字系统测试与可测性领域的基本理论和方法。内容包括:数字系统的故障与故障模型、组合电路的路径敏化一类测试生成算法、时序电路的结构测试与功能测试方法等。
510 1_ ■aTesting and testability for digital systems■zeng
606 0_ ■a数字系统■x测试
606 0_ ■2CT■3S069257■a数字系统
690 __ ■aTP271■v三版
692 __ ■a73.822
701 _0 ■a曾芷德■Azeng zhi de■f(1941~)■4编著
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603