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005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-03-002457-5■dCNY10.60
100 __ ■a19920427d1991    em y0chiy0110    ea
101 1_ ■achi■cjpn
102 __ ■aCN■b110000
105 __ ■ay   z   000yy
106 __ ■ar
200 1_ ■a超大规模集成电路设计■Achao da gui mo ji cheng dian lu she ji■hⅡ■e逻辑与测试■f(日)树下行三等著■g裴武焕译
210 __ ■a北京■c科学出版社■d1991.12
215 __ ■a285页■d20cm
225 2_ ■a微电子学讲座■v4
300 __ ■a据日本岩波书店1985年版译出
330 __ ■a本书从基础理论到最新发展,介绍了集成电路设计中的逻辑设计与测试技术。其中包括布尔代数、逻辑设计、逻辑模拟、测试系统的生成及易测性设计。
606 0_ ■a超大规模集成电路■x设计
606 0_ ■2CT■3S007398■a超大规模集成电路
690 __ ■aTN47■v三版
692 __ ■a73.7551
701 _0 ■a树下行三■Ashu xia xing san■4著
702 _0 ■a裴武焕■Apei wu huan■4译
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603