晶体缺陷/陈继勤等编著
标准编号:7-308-00947-5   
主要著者:陈继勤  编著  
出版信息:       
载体形态:304页 ; 20cm
价格描述:CNY3.30
主题词:晶体缺陷  
相关资源:
 

内容摘要

本书介绍位错的基本理论及其在材料中的实际应用,阐述了点缺陷和线缺陷的基本性质、典型晶体中的位错、缺陷间相互作用等问题。
文献条码 索书号 状态 所属分馆 所在馆 馆藏地点 架位号 单价 套价 入库日期 {$Think.lang.operation}
8756855 O77/205 在架 LIBNET中心馆 LIBNET中心馆 CNY3.30 CNY3.30 2021-12-19 登录
8756856 O77/205 在架 LIBNET中心馆 LIBNET中心馆 CNY3.30 CNY3.30 2021-12-19 登录
订购年份 验收类型 验收期数 验收数量 验收日期
未找到数据
000    nam0
001 __ 0192012584
005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-308-00947-5■dCNY3.30
020 __ ■aCN■b92006520
100 __ ■a19920725d1992    em y0chiy0110    ea
101 0_ ■achi
102 __ ■aCN■b330000
105 __ ■ay   z   000yy
106 __ ■ar
200 1_ ■a晶体缺陷■Ajing ti que xian■f陈继勤等编著
210 __ ■a杭州■c浙江大学出版社■d1992.4
215 __ ■a304页■d20cm
330 __ ■a本书介绍位错的基本理论及其在材料中的实际应用,阐述了点缺陷和线缺陷的基本性质、典型晶体中的位错、缺陷间相互作用等问题。
606 0_ ■2CT■3S040707■a晶体缺陷
690 __ ■aO77
692 __ ■a54.968
701 _0 ■a陈继勤■Achen ji qin■4编著
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603