文献条码 |
索书号 |
状态 |
所属分馆 |
所在馆 |
馆藏地点 |
架位号 |
单价 |
套价 |
入库日期 |
{$Think.lang.operation} |
8733879 |
TP274/293 |
在架 |
LIBNET中心馆 |
LIBNET中心馆 |
|
|
CNY4.30 |
CNY4.30 |
2021-12-19 |
登录 |
8733880 |
TP274/293 |
在架 |
LIBNET中心馆 |
LIBNET中心馆 |
|
|
CNY4.30 |
CNY4.30 |
2021-12-19 |
登录 |
订购年份 |
验收类型 |
验收期数 |
验收数量 |
验收日期 |
未找到数据 |
000 nam0
001 __ 0191025275
005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-118-00606-8■dCNY4.30
100 __ ■a19911215d1990 em y0chiy0110 ea
101 0_ ■achi
102 __ ■aCN■b110000
105 __ ■ay z 000yy
106 __ ■ar
200 1_ ■a微机化测试系统■Awei ji hua ce shi xi tong■f雷丽文,缪均达编
210 __ ■a北京■c国防工业出版社■d1990.4
215 __ ■a333页■d26cm
300 __ ■a高等学校教材
606 0_ ■a微型计算机-计算机辅助测试■x高等学校■x教材
606 0_ ■a计算机辅助测试-微型计算机■x高等学校■x教材
690 __ ■aTP274
692 __ ■a73.865
701 _0 ■a雷丽文■Alei li wen■4编
701 _0 ■a缪均达■Amiao jun da■4编
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603