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005 __ 20100303210214.0
010 __ ■a7-5606-0181-0■dCNY18.20
100 __ ■a19800101d1992    em y0chiy0110    ea
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200 1_ ■aVLSI可靠性评估技术■AVLSI ke kao xing ping gu ji shu■e译文集■h一■f机械电子工业部第五研究所,西安电子科技大学微电子所编
210 __ ■a西安■c西安电子科技大学出版社■d1992.1
215 __ ■a332页■d26cm
330 __ ■a本书收集了国外近10年发表的与VLSL可靠性评估有关的论文30余篇。涉及到VLSI中的可靠性问题、筛选和可靠性试验、主要失效机理的模型与表征等。
606 0_ ■a超大规模集成电路■x可靠性估计■x文集
606 0_ ■2CT■3S007398■a超大规模集成电路
606 0_ ■2CT■3S043533■a可靠性估计
690 __ ■aTN47-53■v三版
692 __ ■a73.7551083
711 0_ ■a机械电子工业部第五研究所■Aji xie dian zi gong ye bu di wu yan jiu suo■4编
711 0_ ■a西安电子科技大学■Axi an dian zi ke ji da xue wei dian zi suo■b微电子所■4编
801 __ ■aCN■bNLC■c20100603